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    熱電參數測試系統
    產品型號:Namicro-III 型
    產品代碼:
    產品價格:
    折 扣 率: 0
    最后更新:2014-07-04
    關 注 度:2579
    生產企業:武漢嘉儀通科技有限公司
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    產品詳細介紹   武漢嘉儀通科技有限公司是主要從事高端新材料分析儀器研發、生產、銷售為一體的高技術企業。公司長期專注于新材料分析和檢測領域,有一整套成熟的分析、檢測方案,堅持以技術創新為客戶不斷創造價值。

       本公司研發的Namicro-III 型熱電參數測試系統采用準動態法(具有專利技術)和四探針法分別測量樣品的塞貝克系數和電阻率。

       1、動態法測量塞貝克系數,避免了傳統靜態測量法在溫差測量方面的系統誤差,測量更準確。

       2、電阻率測量和塞貝克系數測量不共用電壓探針,避免出現微型熱電偶斷裂失效的問題。

       3、軟件界面友好,操作方便,高度自動化。既可以全自動測量,也支持半自動和手動采集測量,全自動測試時,只需設置起始溫度、終了溫度以及測試步長三個值即可,溫度曲線設置大為簡化。

    技術參數

    溫度范圍 RT~ 800 ℃
    溫控方式 PID 程序控制
    真空度         1~50 Pa
    測試氣氛 真空
    測量范圍 塞貝克系數: S ≥  8 μV/K;

                    電阻率:0.1 μΩm ~ 100 kμΩ·m 

    分辨率         塞貝克系數:0.05μV/K;

                    電阻率: 0.05 μΩ·m

    相對誤差精度 塞貝克系數≤ 6%;

                    電阻率≤ 5% 

    樣品尺寸 1) 塊體樣品: 長條形,長×寬:( 2~5)× (2~5)mm ; 高度:12~ 18mm 
                    2) 薄膜樣品: 長方形,長≥23mm  寬≥28 mm 




                                                              ————  武漢嘉儀通科技
    武漢嘉儀通科技有限公司
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    加入時間:2014-01-03
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