名稱：LED芯片顆粒視覺計數儀 簡介：該套儀器通過高速的圖像獲取及視覺識別處理來鑒別LED芯片的顆粒計數問題。用于LED芯片外延片面積測試，同樣適用于Si、Ge、Gap、GaAs、GaAlAs、GaN、四元素等拋光片外延片的面積測試。 性能參數： 1．成像特性　　 鏡頭：4.5～10mm可變焦、F1.6、1/2”C接口的高保真光學鏡頭 CMOS規(guī)格：500萬像素，真彩 像素分辨率：0.045mm 　　 對焦方式：手動對焦；　　 圖像觀察：具有圖像亮度、對比度、飽和度調整功能，調整值自動記憶保存，具有任意放大、縮小、局部觀察功能 2．檢測性能： 有效視野：30～150mm 　　 軟件自動計數功能：可計數芯片二極管數量和紅、綠、藍等各色LED芯片顆粒總數，顯示和統(tǒng)計計數結果　　 適用芯片尺寸：4寸以下,透明/不透明LED芯片, 芯片顆粒規(guī)格≥5mil (或0.127mm)均可 計數速度：6～20萬LED芯片/秒 計數誤差≤0.1‰ 最大芯片計數量≥20萬pcs