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    探頭




    量程




    低端
    分辨率




    誤差




    最小曲率
    半徑(凸/凹)




    最小測量
    區(qū)域直徑




    最小基
    體厚度




    探頭尺寸




























    F05




    0-500μm




    0.1μm




    ±(1%±0.7μm)




    1/5mm




    3mm




    0.2mm




    φ15x62mm






    F1.6




    0-1600μm




    0.1μm




    ±(1%±1μm)




    1.5/10mm




    5mm




    0.5mm




    φ15x62mm






    F1.6/90




    0-1600μm




    0.1μm




    ±(1%±1μm)




    平面/6mm




    5mm




    0.5mm




    φ8x170mm






    F3




    0-3000μm




    0.2μm




    ±(1%±1μm)




    1.5/10mm




    5mm




    0.5mm




    φ15x62mm






    F10




    0-10mm




    5μm




    ±(1%±10μm)




    5/16mm




    20mm




    1mm




    φ25x46mm






    F20




    0-20mm




    10μm




    ±(1%±10μm)




    10/30mm




    40mm




    2mm




    φ40x66mm






    F50




    0-50mm




    10μm




    ±(3%±50μm)




    50/200mm




    300mm




    2mm




    φ45x70mm
















    FN1.6




    0-1600μm




    0.1μm




    ±(1%±1μm)




    1.5/10mm




    5mm




    F0.5mm
    N50μm




    φ15x62mm






    FN1.6P




    0-1600μm




    0.1μm




    ±(1%±1μm)




    平面




    30mm




    F0.5mm
    N50μm




    φ21x89mm






    FN2




    0-2000μm




    0.2μm




    ±(1%±1μm)




    1.5/10mm




    5mm




    F0.5mm
    N50μm




    φ15x62mm
































    N02




    0-200μm




    0.1μm




    ±(1%±0.5μm)




    1/10mm




    2mm




    50μm




    φ16x70mm






    N.08Cr




    0-80μm




    0.1μm




    ±(1%±1μm)




    2.5mm




    2mm




    100μm




    φ15x62mm






    N1.6




    0-1600μm




    0.1μm




    ±(1%±1μm)




    1.5/10mm




    2mm




    50μm




    φ15x62mm






    N1.6/90




    0-1600μm




    0.1μm




    ±(1%±1μm)




    平面/10mm




    5mm




    50μm




    φ13x170mm






    N10




    0-10mm




    10μm




    ±(1%±25μm)




    25/100mm




    50mm




    50μm




    φ60x50mm






    N20




    0-20mm




    10μm




    ±(1%±50μm)




    25/100mm




    70mm




    50μm




    φ65x75mm






    N100




    0-100mm




    100μm




    ±(1%±0.3mm)




    100mm/平面




    200mm




    50μm




    φ126x155mm






    CN02




    10-200μm




    0.2μm




    ±(1%±1μm)




    平面




    7mm




    無限制




    φ17x80mm




    MiniTest1100,MiniTest1100
    產品型號:MiniTest1100
    產品代碼:
    產品價格:
    折 扣 率: 0
    最后更新:2013-07-22
    關 注 度:3653
    生產企業(yè):上海鼎徵儀器儀表設備有限公司
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    MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀功能 
     




    型號



    1100




    2100




    3100




    4100





    MINITEST 存儲的數據量 




    應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)



    1




    1




    10




    99





    每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統(tǒng)計,可設寬容度極限值)



    -




    1




    10




    99





    可用各自的日期和時間標識特性的組數



    -




    1




    500




    500





    數據總量



    1




    10000




    10000




    10000





    MINITEST統(tǒng)計計算功能 




    讀數的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar



    -




















    讀數的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk



    -




    -















    組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar



    -




    -















    組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk



    -




    -















    存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據



    -




    -




    -










    分組打印以上顯示和存儲的數據和統(tǒng)計值



    -




    -















    顯示并打印測量值、打印的日期和時間



    -




















    其他功能 




    透過涂層進行校準(CTC)



    -
























    在粗糙表面上作平均零校準
























    利用計算機進行基礎校準
























    補償一個常數(Offset)



    -




    -















    外設的讀值傳輸存儲功能



    -




















    保護并鎖定校準設置
























    更換電池是存儲數值
























    設置極限值



    -




    -



















    公英制轉換
























    連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值



    -




    -



















    連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數



    -




    -



















    浮點和定點方式數據傳送
























    組內單值延遲顯示



    -




















    連續(xù)測量模式中顯示最小值




























    產品詳細介紹

    德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
    MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
    所有型號均可配所有探頭;
    可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
    可使用一片或二片標準箔校準。





    可選探頭參數(探頭圖示)
    所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇最適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
    F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
    N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 
    FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
     






    注:


    F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
    N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
    CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 





    探頭圖示







    FN1.6
    0~1600μm,φ5mm
    兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)









    FN1.6P
    0~1600μm,φ30mm
    兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度










    F05
    0~500μm,φ3mm
    磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
    量程低端分辨宰很高(0.1μm)









    F1.6
    0~1600μm,φ5mm
    磁性測頭
    量程低端分辨率很高(0.1μm)









    F3
    0~3000μm,φ5mm
    磁性測頭
    可用于較厚的覆層









    F1.6/90
    0~1600μm,φ5mm
    90度磁性測頭
    尤其適合于在管內壁測量
    量程低端分辨率很高(0.1μm)









    F10
    0~10mm,φ20mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等










    F20
    0~20mm,φ40mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 









    F50
    0~50mm,φ300mm
    適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層









    N02
    0~200μm,φ2mm
    非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)









    N0.8Cr
    0~80μm,φ2mm
    適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層









    N1.6
    0~1600μm,φ2mm
    非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
    量程低端分辨率很高(0.1μm)









    N1.6/90
    0~1600μm,φ5mm
    磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
    尤其適合在管內壁測量
    量程低端分辨率很高(0.1μm)









    N10
    0~10mm,φ50mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等









    N20
    0~20mm,φ70mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等









    N100
    0~100mm,200mm
    非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等








    CN02
    10~200μm,φ7mm
    用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板







    上海鼎徵儀器儀表設備有限公司
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    加入時間:2013-07-22
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